特許権侵害で査察制度を創設(特許庁)

特許庁は、特許権侵害を立証しやすくするため、他社の特許を侵害したと疑われる企業に対し、専門家が立ち入り調査を行うことができる査察制度を導入する方針です。

今国会に新制度の創設を盛り込んだ特許法改正案を提出する予定。

新制度では、裁判所が選任した中立的な専門家が工場やオフィス等への立ち入り検査を行い、被疑侵害者側にある証拠を押さえることが可能となります。

実際に製造工程や動作過程を確認しなければ証拠の収集が困難なケースにおいて、技術専門家が被疑侵害者の敷地・建物に立ち入り、実験や計測などを通じて証拠を収集します。

特許権侵害訴訟では、現在でも文書の提出や検証物の提示を命令することはできますが、権利者が侵害を立証するための証拠収集は困難なケースが多いことから、相手方当事者の工場等において必要な証拠提示を強制するための仕組みが不可欠であると判断しました。

一方、改正案では、制度の乱用を防ぐため、査察は「証拠品が十分に集まらない」などの条件を満たした場合に限るとしています。